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产品型号：
HD-V7-PC
产品简介：
可见分光光度计面向常规可见光分析，采用单光束C-T式光学系统、全息光栅和PD光电二极管，配备钨灯光源，波长范围320–1100 nm。小型化机身配合7英寸彩色电容触摸屏，便于实验台面布置和日常操作，支持光度测量、多波长测量、定量分析及光谱、时间扫描。单机可通过U盘导出全量测量数据和报告，也可连接带审计追踪功能的PC上位机。
一、产品简介
本仪器面向常规可见光分析，采用单光束C-T式光学系统、全息光栅和PD光电二极管，配备钨灯光源，波长范围320–1100 nm。小型化机身配合7英寸彩色电容触摸屏，便于实验台面布置和日常操作，支持光度测量、多波长测量、定量分析及光谱、时间扫描。单机可通过U盘导出全量测量数据和报告，也可连接带审计追踪功能的PC上位机，完成仪器控制、数据存储与报告管理。
二、应用范围
适用于水质检测、环境监测、食品饮料质控、农业生产检测、基础化工分析及教学实验等场景中的常规可见光比色与定量分析，主要用于经显色或本身在可见光区具有特征吸收的样品。可依据相应标准方法开展水质中氨氮、亚硝酸盐氮、总磷，空气与废气中甲醛、氮氧化物、氨，以及土壤和沉积物中氰化物、挥发酚、硫化物等项目的测定，并可完成光度测量、多波长测量、标准曲线定量、光谱扫描和时间扫描。小型化机身适合空间有限的实验室及日常教学、质检操作。仪器测量范围为320～1100 nm，不适用于依赖紫外区吸收直接测定的项目，如硝酸盐氮紫外法、总氮碱性过硫酸钾消解紫外法及核酸、蛋白质的紫外直接测定。
三、执行标准（部分标准）
1.适用标准与检定依据:
| 类别 | 标准编号及名称 | 用途 |
| 产品技术参考标准 | GB/T 26810—2011《可见分光光度计》 | 产品技术要求及检验方法参考 |
| 计量检定依据 | JJG 178—2007《紫外、可见、近红外分光光度计》 | 计量性能检定依据 |
计量检定项目包括波长示值误差及重复性、透射比示值误差及重复性、噪声与漂移、最小光谱带宽、基线平直度、杂散光等。
2.相关应用方法
下列标准作为分光光度测量的应用方法参考。样品采集、前处理、试剂、比色皿、仪器条件及质量控制按相应方法执行；用于具体样品前应完成实验室方法确认。应用方法不作为整机检定依据。
| 领域 | 标准编号 | 方法名称 |
| 空气与废气 | GB/T 15516—1995 | 空气质量 甲醛的测定 乙酰丙酮分光光度法 |
| 空气与废气 | HJ 479—2009及修改单 | 环境空气 氮氧化物（一氧化氮和二氧化氮）的测定 盐酸萘乙二胺分光光度法 |
| 空气与废气 | HJ 533—2009 | 环境空气和废气 氨的测定 纳氏试剂分光光度法 |
| 水质 | GB/T 5750.5—2023 | 生活饮用水标准检验方法 第5部分：无机非金属指标 |
| 水质 | HJ 535—2009 | 水质 氨氮的测定 纳氏试剂分光光度法 |
| 水质 | GB/T 7493—1987 | 水质 亚硝酸盐氮的测定 分光光度法 |
| 水质 | GB/T 11893—1989 | 水质 总磷的测定 钼酸铵分光光度法 |
| 土壤与沉积物 | HJ 745—2015 | 土壤 氰化物和总氰化物的测定 分光光度法 |
| 土壤与沉积物 | HJ 998—2018 | 土壤和沉积物 挥发酚的测定 4-氨基安替比林分光光度法 |
| 土壤与沉积物 | HJ 833—2017 | 土壤和沉积物 硫化物的测定 亚甲基蓝分光光度法 |
GB/T 5750.5—2023仅列入与本仪器波段和配置相适应的分光光度测定条款，不表示覆盖该标准的全部检测方法。
四、产品特点
1. 单光束可见光测量系统
采用C-T式单色器、1200线/mm全息光栅和PD光电二极管，配备钨灯光源，波长范围320–1100 nm，适用于可见光区的吸光度、透射比测量及光谱扫描。
2. 波长与光度性能
波长最大允许误差±0.1 nm（536.2 nm）、±0.5 nm（全波段）；透射比最大允许误差±0.3%T（0–100%T），透射比重复性≤0.1%T，杂散光≤0.05%T。
★3. 小型化机身与触控操作
机身尺寸460×360×205 mm（宽×深×高），重量（14±1）kg，便于实验台面布置。配备7英寸彩色电容触摸屏，分辨率1024×600，支持中英文界面。
4. 多模式测量与数据处理
支持光度测量、多波长测量、光谱扫描、定量测量和时间扫描，可进行定波长测量、标准曲线定量及吸光度随时间变化记录。配有波长自动校准、基线校正、峰值检测和标准曲线拟合功能。
★5. 单机与PC双操作模式
主机可独立完成参数设置、测量和结果查看，也可连接PC上位机进行仪器控制与数据处理。
6. 全量数据导出与报告生成
单机支持通过U盘导出全量测量数据及检测报告，支持A4版式PDF报告。PC上位机支持全量测量数据存储、图谱导出、检测报告生成和自定义报告，便于实验数据归档与结果复核。
★7. 审计追踪与数据完整性管理
PC上位机支持分级用户、角色及功能权限管理，审计日志记录登录、参数设置、方法变更和报告导出等操作。配合原始数据锁定功能，实现操作留痕和数据追溯，满足实验室审计管理要求。
8. 光谱带宽按需配置
标配2 nm光谱带宽，提供1 nm、1.8 nm及4 nm选配规格，可根据测量方法所需带宽选择相应配置。
9. 多光程与四联支架扩展
标配10 mm标准比色皿支架，可选配适配10–100 mm光程的光程可调支架；另可选配手动推拉四联支架，便于依次切换多个比色皿，适应不同光程和装样安排。
★10. 换灯免调试与维护管理
光源更换后无需进行光路调试，支持光源使用时长记录，便于掌握光源使用情况和安排维护。主机支持Wi-Fi联网升级软件。
五、技术参数
| 参数名称 | 技术参数 |
| 光学系统 | 单光束，C-T式单色器 |
| 光栅 | 1200线/mm全息光栅 |
| 检测器 | PD光电二极管 |
| 光源 | 钨灯 |
| 波长范围 | 320–1100 nm |
| 光谱带宽 | 2 nm（标配）； 1 nm、1.8 nm、4 nm（选配） |
| 波长最大允许误差 | ±0.1 nm（536.2 nm）； ±0.5 nm（全波段） |
| 波长重复性 | ≤0.1 nm |
| 波长分辨率 | 0.1 nm |
| 扫描速度 | ≤2000 nm/min |
| 波长移动速度 | ≤9000 nm/min |
| 吸光度范围 | -4.0 A至+4.0 A |
| 透射比最大允许误差 | ±0.3%T（0–100%T） |
| 透射比重复性 | ≤0.1%T |
| 杂散光 | ≤0.05%T |
| 100%T噪声(@500 nm) | ±0.0005 A；±0.1%T；≤0.001 A；≤0.2%T |
| 0%T噪声 | ±0.02%T；≤0.05%T |
| 漂移（@500 nm，预热2 h） | ≤0.2%T/h；≤0.001 A/h |
| 基线平直度（@ 200 nm – 850 nm） | ±0.001 A |
| 显示屏 | 7英寸彩色电容触摸屏；分辨率1024×600 |
| 界面语言 | 中文／英文 |
| 测量功能 | 光度测量、多波长测量、光谱扫描、定量测量、时间扫描 |
| 操作方式 | 主机独立操作；支持PC上位机控制 |
| 校准及数据处理 | 波长自动校准、基线校正、峰值检测、标准曲线拟合 |
| 数据接口 | USB |
| 单机数据导出 | 通过U盘导出全量测量数据及检测报告；PDF报告（A4版式） |
| PC数据存储 | 全量测量数据存储 |
| PC图谱与报告 | 图谱导出、自定义报告、检测报告生成 |
| PC用户与权限 | 分级用户与角色权限管理；账号管理及功能权限分配 |
| PC审计管理 | 审计追踪；记录登录、参数设置、方法变更及报告导出等操作，满足实验室审计管理要求 |
| PC数据保护 | 审计日志及原始数据锁定 |
| 软件升级 | Wi-Fi联网升级 |
| 光源使用时长记录 | 钨灯 |
| 光源更换免调式 | 支持 |
| 标准比色皿支架 | 10 mm标准比色皿支架 |
| 选配比色皿支架 | 光程可调支架（10–100 mm）；手动推拉四联支架 |
| 比色皿规格 | 10 mm×10 mm |
| 电源电压 | AC 220 V±22 V |
| 电源频率 | 50 Hz±1 Hz |
| 功率 | ≤80 W |
| 外形尺寸 | 460×360×205 mm （宽×深×高） |
| 重量 | （14±1）kg |
| 工作温度 | 15–35 ℃ |
| 工作湿度 | 30%–70% RH，无冷凝 |
| 储存温度 | -10–60 ℃ |
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